Caractérisation microstructurale des matériaux
Analyse par les rayonnements X et électronique
Guide des sciences et technologies industrielles 2020-2021
Année : 06/2020 0
Auteur : Claude ESNOUF
Editeur : PRESSES POLYTECHNIQUES ET UNIVERSITAIRES ROMANDES
Collection : Métis Lyon Tech
Date parution : 09/2011Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique.
Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage. couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique.
Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural.
Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.
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Nbr de pages : 579
Poids : 1190 gr
ISBN 10 : 2880748844
ISBN 13 : 9782880748845
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