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Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins

Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins - hermès / lavoisier - 9782746212381 -
Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins 

Auteur : 

Editeur : Hermès / Lavoisier

Date parution :  (2ème édition)

Cet ouvrage est la deuxième édition d'une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de la plupart de ses applications en science des matériaux. Après une introduction historique décrivant les étapes de la découverte de la diffraction des rayons X depuis la découverte des rayons X eux-mêmes, l'ouvrage présente, dans sa première partie, la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, les instruments de mesure utilisés en diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, puis les méthodes modernes de traitement des diagrammes réalisés, et enfin, les principales applications conventionnelles de la diffraction sur échantillons polycristallins. Dans une deuxième partie, ce livre traite de l'étude quantitative par diffraction des rayons X de la microstructure des matériaux nanostructurés. Il analyse les fondements théoriques de ce type d'étude, la caractérisation des matériaux polycristallins d'orientation aléatoire et enfin, l'étude des couches minces épitaxiées.

Auteurs :

René Guinebretière est professeur en physique des matériaux à l'école nationale supérieure de céramique industrielle à Limoges. Il enseigne la radiocristallographie à des élèves ingénieurs et effectue ses recherches sur les nanomatériaux au sein du laboratoire SPCTS associé au CNRS.


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Descriptif : 

Reliure :
Broché
Nbr de pages :
360
Dimension :
15.5 x 23.5 x 1.4 cm
Poids :
65 gr
ISBN 10 :
2746212382
ISBN 13 :
9782746212381
98,00 €
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Sommaire

Introduction historique : découverte des rayons X et premiers travaux de radiocristallographie. Éléments théoriques de base, instrumentation et exploitation usuelle des résultats. Chapitre 1. Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X. Chapitre 2. Instrumentation en diffraction des rayons X. Chapitre 3. Traitement des données, extraction de l'information. Chapitre 4. Exploitation des résultats. Analyse microstructurale. Chapitre 5. Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts. Chapitre 6. Étude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire. Chapitre 7. Étude microstructurale de couches minces. Bibliographie. Index.