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Microscopie électronique à balayage et Microanalyses

Microscopie électronique à balayage et Microanalyses - edp sciences - 9782759823222 -
Microscopie électronique à balayage et Microanalyses 

Auteur : 

Editeur : EDP SCIENCES

Date parution :  (2ème édition)

La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L’ensemble des bases théoriques (interactions électrons-matière, rayonnement X), les  principales caractéristiques techniques (canon, optique électronique, détecteurs, vide et maintenance), ainsi que des compléments pratiques  d’utilisation liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont ainsi  amplement détaillés, de même que les microanalyses EDS, WDS et EBSD. À coté de ces piliers structurants, d’autres techniques d’analyse ou d’observation sont abordées, telles l’analyse TKD et l’imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, l’ECCI et la micro-analyse des couches minces. Des notions sur les échantillons biologiques, le raman ou la cathodo-luminescence, etc. sont présentées.

Ce volume en langue française, unique, est la nouvelle version de l’édition de 2008, aujourd’hui épuisée. Il regroupe, principalement, les cours dispensés lors de l’école d’été de Saint-Martin d’Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA) et les laboratoires locaux mais l’ensemble a été revu et complété par de nouveaux chapitres. Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s’investir dans toutes ces techniques d’imagerie et d’analyse, afin d’en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l’école d’été et d’autres spécialistes, tous ingénieurs ou chercheurs et experts dans leur domaine.

Cet ouvrage s’inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en Microanalyses.



En suivant ce lien, retrouvez tous les livres dans la spécialité Optique.
Préface : F. GRILLON
Reliure : Broché
Nbr de pages : 1008
Dimension : 1.7 cm x 2.4 cm
Poids : 1938 gr
ISBN 10 : 2759823229
ISBN 13 : 9782759823222
120,00 €
Sur commande , expédition à 0.01€ sous 4 à 8 jours (en savoir plus)

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