Statistique industrielle
Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP
Auteur : François BERGERET , Sabine MERCIER
Editeur : DUNOD
Collection : Technique et ingénierie
Date parution : 01/2021La quantité de données collectées et stockées par les entreprises n'a jamais été aussi importante qu'aujourd'hui, entraînant un bond en avant de la statistique industrielle qui permet d'utiliser ces données dans le but de contrôler, fiabiliser et optimiser les procédés industriels. Fruit de l'expérience d'un statisticien et d'une chercheuse, cet ouvrage à destination des ingénieurs détaille dans une première partie les quatre piliers de la statistique industrielle : - l'analyse, l'évaluation et la maîtrise des systèmes de mesure ; - la maîtrise statistique des procédés ; - l'échantillonnage ; - l'estimation. Sept cas d'étude concrets issus de problèmes industriels dans des domaines aussi variés que la microélectronique, l'aéronautique, l'industrie pharmaceutique... viennent ensuite illustrer et développer la partie théorique pour apporter une approche terrain.
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Nbr de pages : 240
Poids : 450 gr
ISBN 10 : 210081091x
ISBN 13 : 9782100810918
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